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内应力检测仪 SV50

具备透明光学元器件内应力分布定量测量功能
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产品编号
SV50
数量
-
+
1
产品描述

优势

  • 基于双折射应力测量模型实现光学延迟和内应力分布二维测量
  • 包含多波长测量功能,光学延迟测量量程大

 

适用对象

适用于精密光学元件(平晶,棱镜,波片,透镜等)的内应力检测
 

 

适用领域

光学注塑,玻璃模压,玻璃热弯工艺

 

测量原理

基于偏振光应力双折射效应检测材料内部残余应力分布。当材料由于加工工艺温度梯度和内部缺陷导致产生内应力时,材料会呈现出应力双折射效应,偏振光透过它时会发生偏振态调制,通过测量透射光的斯托克斯矢量可以推算出材料的光学延迟量,从而测量出材料内应力分布。

实测案例

 

Strain Viewer技术规格

产品型号

SV50

样品测量口径

2英寸/ 60*80mm

测量模式 单波长/多波长

应力测量输出内容

相位延迟(°)及光学延迟(nm)

归一化延迟(nm/mm)
综合应力(MPa)及方位角

测量光源

630nmLED光源

可选配其它光源

应力测量范围

单波长 0~300nm光学延迟

双波长 0~4000nm光学延迟

方位角测量范围

0-180 °

测量重复性

±1nm光学延迟,±0.5 °方位角

测量准确性

±2.5%

应力图像解析度  100万像素

单次测量时间

典型:单波长 <6s 

         多波长 <12s 

样品载台

一体式样品载物台

设备尺寸

桌面式主机:274mm* 250mm*650mm 长*宽*高

 

澳门新葡萄新京6663内应力检测仪将透明光学元器件内应力数值、方位角等分析整合进入一键测量,确保我们的客户能够快速确认工艺和生产管控。

关键词:
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应力
延迟
测量
光学
样品
方位角
内应力
光源
检测
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澳门新葡萄新京6663产品涵盖自由曲面三维面型检测仪、内应力测量仪、晶圆薄膜应力测量仪、三维测量显微镜、镜面外观缺陷检测仪以及精密光学镜头等,广泛应用于高端精密光学制造、半导体晶圆、智能汽车电子系统、智能终端显示、AR/VR产品等制造生产线,相关技术处于国内领先水平,并已形成批量生产能力。 

地址:太仓市娄东街道北京东路88号东G一楼

客服热线:400-069-8900

客服邮箱:wxj@raphaeloptech.com

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